Lokalizacja: Budynek B-4 pok. 13
Opiekunowie laboratorium: mgr inż. Wacław Cieśla, dr inż. Izabela Kalemba
Specyfikacja: LB-1
Skaningowy mikroskop elektronowy, znajdujący się w laboratorium pozwala na prowadzenie obserwacji powierzchni następujących preparatów:
– przewodzących elektrycznie – po uprzednim odtłuszczeniu;
– nieprzewodzących (izolatory) – wymagają pokrycia cienką warstwą węgla lub metalu lub pracy w niskiej próżni, celem zmniejszenia elektryzowania się preparatu oraz zwiększenia emisji elektronów wtórnych;
– biologicznych – technika przygotowania preparatów sprowadza się do utrwalania suszenia w punkcie krytycznym oraz pokrycia próbki cienką warstwą (10 nm) złota.
Wykorzystując mikroskop skaningowy prowadzi się obserwacje z wykorzystaniem kontrastu topograficznego – SE (ang. Secondary Electron) i kontrastu opartego na różnicy liczb atomowych poszczególnych pierwiastków struktury – BSE (ang. Backscatter Electron). Zaletą techniki obserwacji za pomocą SEM jest to, że wiele próbek można oglądać bez specjalnego przygotowywania. Wymiary badanych preparatów ograniczone są jedynie konstrukcją komory próbek. Rejestracji obrazów badanych preparatów dokonuje się przy pomocy cyfrowego układu detekcji. Program dostarczony przez producenta umożliwia obserwację, obróbkę i archiwizację obrazów, ich wydruk, rejestrację na dowolnym nośniku, bądź przesłanie obrazów pocztą internetową. Mikroanalizatory rentgenowskie EDS (ang. Energy-dispersive X-Ray Spectroscopy) umożliwiają analizę składu chemicznego obserwowanych preparatów (analiza ilościowa, półilościowa i jakościowa). Program dostarczony przez producenta pozwala na wykonanie analiz dla wybranych elementów struktury, w zadanym obszarze oraz wzdłuż zadanej linii. Możliwe jest również wykonanie map rozmieszczenia w strukturze poszczególnych pierwiastków. Dostępna jest także analiza składu chemicznego preparatów w wybranych mikroobszarach za pomocą spektrometru WDS (ang. Wavelength-dispersive X-Ray Spectroscopy).
Za pomocą przystawki EBSD (ang. Electron Backscatter Diffraction) dokonuje się precyzyjnej analizy orientacji krystalograficznej materiału lub wykonuje się mapy tekstury krystalograficznej.
- Skaningowy mikroskop elektronowy z analizatorami EDS, WDS i EBSD:
a) Skaningowy mikroskop elektronowy HITACHI S-3500N
– przystawka analizująca EDS NORAN 986B-1SP
b) Skaningowy mikroskop elektronowy FEI Inspect S50
c) Skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy FEI Nova NanoSEM 450 (STEM)
– przystawka analizująca WDS „IBEX”
– przystawka EBSD
